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제품소개

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RS8-1G

dot 제조사   BEGA TECHNOLOGES
dot 품목명   Resistivity Meter
dot 제품특징   Single & Dual Configuration Method의 원리를 적용하였으며, 한국표준과학연구원(KRISS)으로부터 면저항 측정기의 제작 및 측정기술을 이전 받아 상용화한 측정기.
연구&분석용에 최적의 사양으로서 저항, 면저항, 비저항을 측정할 수 있으며 정밀성, 재현성, 신뢰성이 우수한 모델.
적용분야 : 터치스크린, 솔라셀, 반도체, 선저항, 비저항, 분체저항, ETC
dot 옵션  
dot 제품가격   전화요망

Introduction

Bulk, Single Mono, Dual type measurement selection.

Direct Ω, Ω•cm, Ω/sq conversion

Dual type measurement to remove edge effect

Bulk mode for solar cell bulk type material.

Very flexible and customized probe needle and measurement unit.

    (probe tension, probe radius, probe interval)

 

Specification

◇ Measurement method : Single & Dual Configuration Method

◇ Measurement range : 4 mΩ/sq. ~ 1 GΩ/sq.

◇ Measurement resolution : 4½ digits

◇ Measurement accuracy : 0.5 % below (at 23.0 ℃)

◇ Measurement time : 1 s

◇ Source current range : 10 nA ~ 100 mA,

◇ Optional  4Point Probe

 - Pin Spacing : 1.00mm, 1.59 or Customized type for  such as  carbon doped  plastics, conductive nano fiber layer material

 - Pin Radius : 50 ~ 500

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